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惠州电子元器件低温环境测试
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发布时间: 2020-10-22 13:33
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    低温测试(低温运行、低温贮存)试验的目的是检验试件能否在长期的低温环境中储藏、操纵控制,是确定军民用设备在低温条件下储存和工作的适应性及耐久性。
    低温下材料物理化学性能。
    标准中对于试验前处理、试验初始检测、样品安装、中间检测、试验后处理、升温速度、温度柜负载条件、被测物与温度柜体积比等均有规范要求。
    主要用于科研研究、医辽用品的保存、生物制品、远洋制品、电子元件、化工材料等特殊材料的低温实验及储存。

    低温条件下试件的失效模式:产品所使用零件、材料在低温时可能发生龟裂、脆化、可动部卡死、特性改变等现象。

    低温环境对设备的主要影响有:

    a. 使材料发硬变脆;

    b. 润滑剂粘度增加,流动能力降低,润滑作用减小; 

    c. 电子元器件性能发生变化; 

    d. 水冷凝结冰; 

    e. 密封件失效; 

    f. 材料收缩造成机械结构变化。
     

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