13378656621
电容检测电子元器件
报价: 1.00元/件
最小起订: 1
有效期至: 长期有效
发布时间: 2021-06-29 13:26
发布IP: 113.104.180.110
浏览次数: 243
手机号: 13378656621
电话: 0755-23312011
在线咨询: 点击这里给我发消息
gang767
详细信息

  电子元器件是元件和器件的总称。
    电子元件:指在工厂生产加工时不改变分子成分的成品,元件属于不需要能源的器件。它包括:电阻、电容、电感等。(又称为被动元件Passive Components)
    电子器件:工厂在生产加工时改变了原材料分子结构的产品称为器件。
    电子器件分为:
    1、分立器件,分为(1)双极性晶体三极管 (2)场效应晶体管 (3)可控硅 (4)半导体电阻电容;
    2、主动器件(又称为有源器件),是指电路中含有放大控制元(如半导体、三极管、MOS管等)的电路器件,主动器件需要外部提供电源才能工作。

    集成电路,英文为Integrated Circuit,缩写为IC;顾名思义,就是把一定数量的常用电子元件,如电阻、电容、晶体管等,以及这些元件之间的连线,通过半导体工艺集成在一起的具有特定功能的电路。

检测范围

    电子元器件:电阻器、电容器、电感器、场效应晶体管、三极管、二极管、电连接器等;

    集成电路:数字集成电路(小规模集成电路及大规模集成电路)、半导体集成电路等。

检测项目

    环境可靠性、机械、物理和寿命试验

相关检测标准

     GJB360B 电子及电气元件试验方法 温度冲击试验

    GB/T 2423.11电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验Fd:宽频带随机振动--一般要求

    GJB 360A 电子及电气元件试验方法

    GJB 1420A 半导体集成电路外壳总规范

    GJB 128A 半导体分立器件试验方法

    GJB 3157 半导体分立器件失效分析方法和程序

    GJB 3233 半导体集成电路失效分析程序和方法

    GJB 548A 微电子器件试验方法和程序

    GJB 548B 微电子器件试验方法和程序

    GJB 5914 各种质量等级半导体器件破坏性物理分析方法

    GJB128A 半导体分立器件试验方发方法1071密封

    GB/T17574半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路

    GJB597A 半导体集成电路总规范

    GB/T6798半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

    GB/T4587半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

    GB/T4586半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

    GB/T 4023 半导体器件:分立器件和集成电路第2部分:整流二极管

    GB/T2693 电子设备用固定电容器 部分:总规范

    GB/T5729 电子设备用固定电阻器 部分:总规范

    GJB1217A 电连接器试验方法等。


相关产品
相关电子元器件产品
产品分类
最新发布
企业新闻
站内搜索
 
联系方式
  • 地址:深圳市宝安区航城街道九围社区洲石路723号强荣东工业区E2栋华美电子厂2层
  • 电话:0755-23312011
  • 手机:13378656621
  • 传真:0755-23727890
  • 联系人:蔡工